你知道无损探伤的优点有哪些吗？

无损探伤就是在不损伤被测材料的情况下，检查材料的内在或表面缺陷，或测定材料的某些物理量、性能、组织状态等的检测技术。广泛用于金属材料、非金属材料、复合材料及其制品以及一些电子元器件的检测。

无损探伤检测的优点

1、检测结果有直接记录——底片

由于底片上记录的信息十分丰富，且可以长期保存，从而使射线照相法成为各种无损检测方法记录真实、直观、全面、追踪性的检测方法。

2、可以获得缺陷的投影图像，缺陷定性定量准确，各种无损检测方法中，射线照相相对缺陷定性定量是最标准的。在定量方面，对体积型缺陷(气孔、夹渣类)的长度、宽尺寸的确定也很准，其误差大致在零点几毫米。但对面积型缺陷(如裂纹、未熔合类)，如缺陷端部尺寸(高度和张口宽度)很小，则底片上影像尖端延伸可能辨别不清，此时定量数据会偏小。

3、体积型缺陷检出率很高，而面积型缺陷的检出率受到多种因素影响。体积型缺陷是指气孔、夹渣类缺陷。一般情况下，直径在试件厚度的1%以上的体积型缺陷可以检出。在薄试件中，可检出缺陷的小尺寸受人眼分辨率的限制，可达0.5mm或更小。面积型缺陷是指裂纹、未熔合类缺陷，其检出率的影响因素包括缺陷形态尺寸、透照厚度、透照角度、透照几何条件、源和胶片种类、像质计灵敏度等。虽然如此，一般可以说厚试件中的裂纹检出率较低，但对薄试件，除非裂纹或未熔合的高度和张口宽度极小，否则只要照相角度适当，底片灵敏度符合要求，裂纹检出率还是足够高的。

4、适宜无损探伤厚度较薄的工作而不适宜检验较厚工作，因为检验厚工作需要高能量的射线探伤设备。300kV便携式X射线机透照厚度一般小于42mm，420kV移动式X射线机和Ir192 γ射线机透照厚度均小于100mm，对厚度大于100mm的工作照相需使用加速器或Co60，因此是比较困难的。此外，板厚增大，射线照相的灵敏度是下降的，也就是说对厚工作采用射线照相，小尺寸缺陷以及一些面积型缺陷漏检的可能性增大。

5、适宜检测对接焊缝，检测角焊缝效果较差，不适宜检测板材、楱材、锻件 检测角焊缝的布置比较困难，摄得底片的黑度变化大，成像质量不够好。不适宜检验板材、楱材、锻件的原因是板材、锻件中的大部分缺陷与板平行，射线照相无法检出。此外楱材、锻件厚度较大，射线穿透比较困难，效果也不好。

6、有些试件结构和现场条件不适合射线照相由于是穿透法检验，检测时需要接近工作的两面，因此结构和现场条件有时会限制检测的进行。例如有内件的容器，有厚保温层的容器，内部液态或因态介质未排空的容器等均无法检测;采用双壁单影法透照虽可以不进入容器内部，但只适用于直径小的容器，对直径较大(一般大于1000mm)的容器，就很难实施。此外射线照相对源至胶片的距离(焦距)有一定要求，如焦距太短，则底片清晰度会很差。

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